杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)(單管、Ta型、保險絲保護)

              符合標準:

              AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的場效應(yīng)管、IGBT單管等器件進行高溫柵極反偏試驗。

              技術(shù)特點:

              實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流,漏電流最小監(jiān)控值1nA。

              全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


              技術(shù)性能

              表格 p17.png