杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              IGBT模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)(電子開關(guān)保護(hù))

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              IEC60749 、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的IGBT模塊、二極管模塊、整流橋模塊、晶閘管模塊進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn)(HTRB)。

              技術(shù)特點(diǎn):

              可實(shí)時監(jiān)測每個的結(jié)溫TJ。

              可實(shí)現(xiàn)自動上、下橋臂切換測試。

              每個回路漏電流超上限電子開關(guān)斷電保護(hù)。

              實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的漏電流。

              全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


              技術(shù)性能

              表格 p20.png