杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              IGBT模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)(獨立加熱板溫控、電子開關(guān)保護)

              符合標準:

              IEC60749、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、JEDEC等標準。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的IGBT模塊、二極管模塊、整流橋模塊、晶閘管模塊進行高溫反偏試驗(HTRB)。

              技術(shù)特點:

              每個模塊加熱板獨立加熱,可獨立控制每個模塊的結(jié)溫Tj。

              實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

              每個回路漏電流超上限電子開關(guān)斷電保護。

              全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


              技術(shù)性能

              表格 p22.png