杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              高溫高濕反偏老化測(cè)試系統(tǒng)(單管、H3TRB)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              JEDEC、 AEC-Q101等標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、單管IGBT等器件在高溫高濕條件下進(jìn)行反向偏壓試驗(yàn)。

              技術(shù)特點(diǎn):

              實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流。

              全過(guò)程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤(pán)中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線。


              技術(shù)性能

              表格 p23.png