杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              微波器件高溫壽命老化測(cè)試系統(tǒng)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的微波功率器件在高溫下的正向壽命試驗(yàn)。

              技術(shù)特點(diǎn):

              針對(duì)大功率微波器件每顆器件獨(dú)立加熱板溫控。

              每顆器件獨(dú)立的Vd、Vg控制,獨(dú)立的Id控制。 

              兼容穩(wěn)態(tài)壽命、間歇壽命試驗(yàn) 。


              技術(shù)性能

              表格 p27.png