杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              可控硅老化測試系統(tǒng)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              MIL-STD-750、GJB-128、AEC-Q101等試驗標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的可控硅(閘流晶體管)壽命試驗(功率循環(huán))和耐壓試驗。 


              技術(shù)性能

              表格 p28.png