杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              分立器件間歇壽命老化測試系統(tǒng)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等試驗標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適合各種封裝形式的場效應(yīng)管、IGBT單管、二極管、三極管間歇壽命試驗。

              技術(shù)特點:

              更換測試母板,可以滿足不同的試驗電路、不同的器件試驗。

              每個回路加熱電流IH、測試電路Im獨立程序控制。

              監(jiān)控每顆器件的△TJ或者TJ。

              可兼容穩(wěn)態(tài)壽命和間歇壽命試驗。


              技術(shù)性能

              表格 p31.png