杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              IGBT模塊功率循環(huán)老化測試系統(tǒng)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              IEC60749 、AQG324 等試驗標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的大功率IGBT模塊、二極管模塊的功率循環(huán)試驗。

              技術(shù)特點(diǎn):

              嚴(yán)格滿足△Tj≥100℃。 

              可實現(xiàn)秒級和分鐘級循環(huán)試驗。

              檢測顯示每次循環(huán)的△Tj。


              技術(shù)性能

              表格 p32.png