杭州高裕電子科技股份有限公司

              產(chǎn)品展示

              Product Demonstration

              Product Demonstration

              產(chǎn)品展示

              電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)

              符合標(biāo)準(zhǔn):

              MIL-STD-202E、GJB360等標(biāo)準(zhǔn)。

              適用范圍:

              適用于各種封裝形式的獨(dú)石電容器、膽電容器、電解電容器、云母電容器、薄膜電容器進(jìn)行高溫壽命試驗(yàn)或高溫老化篩選試驗(yàn)。

              技術(shù)特點(diǎn):

              系統(tǒng)監(jiān)控給電容器自動(dòng)充放電。

              實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流。

              全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


              技術(shù)性能

              表格 p33.png